4 / 9
Оценка чувствительности многопроходной схемы интерферометра для изучения эффекта Физо
ISSN 1812-3368. Вестник МГТУ им. Н.Э. Баумана. Сер. Естественные науки. 2016. № 4
91
отражения от внешней зеркальной поверхности светоделителя СД
2
. Отметим,
что
,
L
где
— смещение интерференционных полос, выраженное в
длинах волн излучения.
Если пренебречь сдвигом пучков лучей к центру диска, то должно
выполняться равенство
0
0.
r
Тогда, используя условие эффективного ввода
лучей в оптический диск
0
/ 2
r R
можно записать
2 2
2
max
4
1 1
.
R n k
L
c
Выполним оценку смещения интерференционных полос для параметров
существующего интерферометра [13]. Подставляя значения
630 рад/с,
2
1,5,
n
0,6328
мкм,
R
0,05 м, получаем значения смещения полос
max
=
= 0,0066; 0,0132; 0,0198; 0,0264 при
0,1,2,3.
k
Согласно принципу суперпозиции, суммарная амплитуда на чувствитель-
ной площадке фотодетектора равна
0
1 3
1
0
2
2
1 3
2
1 3
2
2
2
( )
( )exp
exp
exp
2 1
exp
2 1
.
e
e
e
e
E t E t
i t
R R ik L
T R T ik L k L TT T ik L k L
Интенсивность в плоскости анализа интерференционной картины для
двухлучевой однопроходной схемы определяют по формуле
0
1 ( )
( ) ( ),
2
i
i
i
I t
cE t E t
где
0
— диэлектрическая постоянная;
с
— скорость света в вакууме;
( )
i
E t
—
комплексно-сопряженная величина для амплитуды световой волны
( ).
i
E t
Интенсивность в плоскости анализа интерференционной картины для
двухлучевой многопроходной схемы составит
2
2
0
1 3
1
1 3
2
0
2
2
1 3
2
1 3
1
2
2
1 3
2
2
2
1 3
2
2
1 ( )
( )
exp
exp
2 1
2
exp
2 1
exp
exp
2 1
exp
2 1
.
e
e
e
e
e
e
I t
cE t R R ik L T R T ik L k L
TT T ik L k L R R ik L
T R T ik L k L
TT T ik L k L
После преобразований приведенное выражение можно переписать в виде
2
2 2 2 4 2 2 4 2
0 0
1 3 1 2 3 1 2 3
2
1 3 1 3
2 1
2 1
2
2
1 3 1 3
2 1
2 1
2
2 2 2 2
2
2
1 2 3 2
1 ( )
( )
2
exp
2 1
exp
2 1
exp
2 1
exp
2 1
exp
2 1
exp
2 1
e
e
e
e
e
e
I t
cE t R R T R T T T T
R R R TT
ik L L k L
ik L L k L
R R TT T
ik L L k L
ik L L k L
T T T R ik L k L
ik L k L
.