Previous Page  6 / 14 Next Page
Information
Show Menu
Previous Page 6 / 14 Next Page
Page Background

Рис. 1. Геометрическая модель ЯП композита (

а

), армированного углеродными

нанотрубками марки CT2H с концентрацией включений около 0,2 масс. %, и

конечно-элементная сетка для ЯП (

б

), использованная в расчетах

в НОЦ “СИМПЛЕКС” МГТУ им. Н.Э. Баумана. Для повышения эф-

фективности расчетов использован CSIR-метод хранения разряжен-

ных матриц.

В качестве объекта математических исследований выбрана ЯП по-

лимерного композита, модифицированного углеродными многостен-

ными нанотрубками марки CT2H (рис. 1). Средний диаметр нанотру-

бок приблизительно 18 нм, аспектное отношение 170.

В рамках тестовых расчетов было вычислено распределение дей-

ствительной ( Re

ϑ

(1)

) и мнимой ( Im

ϑ

(1)

) компонент безразмерного по-

тенциала

ϑ

(1)

электрического поля внутри моделируемого компози-

та для задачи

L

1

(рис. 2) при массовой доли нанотрубок примерно

0,4 масс. %.

Расчет эффективных диэлектрических характеристик нано-

структурированного композита.

В экспериментальных исследо-

ваниях полимерных композитов с углеродными нановключениями

было обнаружено аномальное поведение действительной и мнимой

компонент диэлектрической проницаемости образцов при измене-

нии концентрации нанотрубок [3, 4]. Авторами настоящей работы

сформулировано предположение об образовании “агломератов” при

определенных значениях концентрации углеродных нанотрубок более

0,5 масс. %. В связи с этим происходит сокращение удельной пло-

щади адгезии с последующим уменьшением максвелл-вагнеровской

поляризации.

Для проверки предложенной гипотезы проведены расчеты диэлек-

трической проницаемости наноструктурированного композита с кон-

центрацией углеродных нанотрубок до 1,2 масс. %. Расчет диэлектри-

ческих свойств наноструктурированного композита осуществлялся по

ISSN 1812-3368. Вестник МГТУ им. Н.Э. Баумана. Сер. “Естественные науки”. 2016. № 1

81