Оценивание остаточной надежности на основе модели расходования ресурса - page 4

Поскольку
R
γ
0
=
t
г
+
τ
,
то изделия можно еще эксплуатировать вре
-
мя
τ
=
t
г
R
γ
1
R
γ
1
˜
R
γ
+
t
г
t
г
=
t
г
( ˜
R
γ
t
г
)
R
γ
1
˜
R
γ
+
t
г
.
(2)
Пример экспериментального апробирования на низкочастот
-
ных транзисторах МП
165.
В табл
. 1 (
приведенной в НИР
Тублер
”)
представлены данные эксплуатации и статистическая обработка ре
-
зультатов испытаний транзисторов МП
165.
Объем выборки составляет
50
транзисторов
.
Режим эксплуатации был следующий
:
температура
окружающей среды
ε
0
= 70
o
С
,
электрическая нагрузка
U
св
= 15
B
и
I
ε
= 13
,
5
м
A.
Кроме того
,
было использовано циклирование режима
:
время включенного режима составляло
12
мин
,
а время выключенно
-
го состояния транзисторов
— 7
мин
.
Считали
,
что произошел отказ
,
если
h
21
22
,
5
.
Результаты испытаний и статистическая обработка
представлены во второй колонке табл
. 1.
Таблица
1
Результаты испытаний низкочастотных транзисторов МП
165
До переключения режима
(
ε
0
= 70
o
С
)
После переключения режима
(
ε
1
= 90
o
С
)
№ п
/
п
T
,
ч
˜
M
h
21
˜
σ
h
21
№ п
/
п
T
,
ч
˜
M
h
21
˜
σ
h
21
Первая выборка
1
0 60,4
9,6
1
0
46
16,8
2
17
60
8,4
2
294 45
13,7
3
41
58
8,8
4
159 58
9,6
Вторая выборка
(
ε
1
= 90
o
С
)
5
209 59
11,3
1
0
61
12,5
6
350 58
13,7
2
17 60
10,1
7
465 50
11,9
3
41 58
12,8
8
592 48
14,9
4
159 53
15,4
9
712 49
15
5
209 56
17,2
10 803 48
16,6
6
350 45
17,0
11 1024 49
14,6
7
398 47
15,3
12 1216 47
13,8
8
470 45
15,3
13 1401 46
17,6
9
563 43
13,6
14 1595 48
15,8
15 1800 47
14,7
16 2050 47
15,5
17 2300 45
15,1
18 2500 46
16,8
62
ISSN 1812-3368.
Вестник МГТУ им
.
Н
.
Э
.
Баумана
.
Сер
. “
Естественные науки
”. 2005.
3
1,2,3 5
Powered by FlippingBook