Исследование оптических характеристик конструкционных материалов фотонных энергоустановок на источнике синхротронного излучения. Ч. 2 - page 1

УДК 535.9
С. Н. И в а н о в, Е. Ю. Л о к т и о н о в,
Ю. Ю. П р о т а с о в
ИССЛЕДОВАНИЕ ОПТИЧЕСКИХ
ХАРАКТЕРИСТИК КОНСТРУКЦИОННЫХ
МАТЕРИАЛОВ ФОТОННЫХ
ЭНЕРГОУСТАНОВОК НА ИСТОЧНИКЕ
СИНХРОТРОННОГО ИЗЛУЧЕНИЯ. Ч. 2
Приведены описание разработанного оптического модуля с зонди-
рующим синхротронным излучателем и результаты эксперимен-
тального определения спектральных коэффициентов отражения и
поглощения ряда конструкционных материалов фотонных энгерго-
установок (Mo, Nb, Ti, Zr) в коротковолновом диапазоне спектра
на источнике синхротронного излучения Курчатовского центра при
допороговых для развитого поверхностного испарения значениях
плотности мощности синхротронного излучения и температуре
поверхности конденсированных мишеней 300. . . 77
K. Полученные
результаты использованы в создаваемой базе данных оптических
свойств материалов.
E-mail:
Ключевые слова
:
спектральные коэффициенты отражения и поглоще-
ния, конструкционные материалы, фотонные энергоустановки, вакуум-
ный оптодиагностический модуль, синхротронное излучение.
Экспериментальное определение спектральных коэффициентов
отражения и поглощения конструкционных материалов в коротко-
волновой области спектра представляет большой научный и прак-
тический интерес, что связанно с разработкой широкого спектра
плазменно-оптических устройств и систем высокой плотности мощ-
ности, где конструкционные материалы находятся в непосредствен-
ном контакте с излучающей в вакуумном ультрафиолете активной
средой. Следует отметить, что в настоящее время отсутствуют экс-
периментальные данные о спектральных коэффициентах отраже-
ния и поглощения применяемых конструкционных материалов в
вакуумной ультрафиолетовой (ВУФ) области спектра как в услови-
ях интенсивной светоэрозии, так и в условиях плазменной экра-
нировки падающего излучения [1, 2]. Отметим, что и для отно-
сительно хорошо изученных материалов с зеркально-диффузным
характером отражения (и тонкопленочных структур на их осно-
ве) значения направленно-полусферических коэффициентов отра-
жения
R
(
λ, T
)
, полученные разными экспериментальными группа-
ми, существенно отличаются, особенно в коротковолновой области
спектра [3].
Так, для количественного анализа радиационно-газодинамических
процессов взаимодействия мощного оптического излучения с конден-
сированными активными средами и конструкционными материалами
80
ISSN 1812-3368. Вестник МГТУ им. Н.Э. Баумана. Сер. “Естественные науки”. 2010. № 1
1 2,3,4,5,6,7,8,9
Powered by FlippingBook